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晶圆明暗场检测镜头
装备精度:
详情介绍:晶圆明暗场物镜是半导体晶圆(Wafer)缺陷检测专用无限远平场复合物镜,单颗物镜集成明场 + 暗场双光路,配套金相 / 半导体检测显微镜、晶圆 AOI 设备,用于 6/8/12 寸裸晶圆、光刻后晶圆、芯片划片缺陷检测,是半导体前道、封装质检核心光学配件。
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